Optical Profiler
用於表面粗糙度和表面形貌的量測,比使用探針是台階儀或原子力顯微鏡(AFM)成本更低2~3倍,利用垂直掃描干涉(VSI),其性可達50奈米的垂直解析度,如多加相移干涉(PSI)的功能,更可達1奈米的高解析度。 |
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● 特點 • 標配XY兩軸自動移動平台,行程範圍100 x 100 mm,且含+/-5°的tip-tilt功能; 亦可選配200 x 200 mm行程平台 • 標配Z軸自動移動平台,行程範圍100 mm • 業界領先之500 um壓電移動行程 • 業界領先之最大視野:使用10倍物鏡可提供2毫米的視野,並具數位變焦功能,不 需要常常切換多個物鏡。物鏡轉盤也可一次搭載四組物鏡,能滿足需要多種倍率 物鏡交替使用的量測應用 • 可量測樣品最大寬度:256 mm • 階高標準片:包含一個10個微米階高標準片,可達0.5%準確度。另也提供具有100 奈米,2微米以及4微米等多階高標準片 • 次奈米等級的垂直解析度 • 功能強大的線上分析軟體(還可透過手機或平板操作) ▋應用範例
▋應用產業 • 學研單位 • 矽和化合物半導體 • 精密光學和機械量測 • 醫療設備 • LED發光二極體 • MEMS微機電系統 • 數據儲存設備 • 汽車產業
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